Полное описание

Thonissen, M. O.-W. Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porosem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektonische Anwendungen : Diss. / M.O.-W.Th@:onissen. - Aachen, 1998. - viii,160,XXIII S. S. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с.XIII-XXII

ГРНТИ	УДК
81.37.09	681.7.03(043)
47.33.33	621.383(043)

Рубрики:
Оптические материалы -- Методы исследования
Оптоэлектронные приборы -- Методы исследования

Кл.слова (ненормированные): КРЕМНИЕВАЯ ПЛЕНКА -- КРЕМНИЕВАЯ СТРУКТУРА
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/26691)

Шифр в сводном ЭК: e2cf58a2d179d60a70fdf3e935ccd762

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽