Полное описание

Кибардин, А. В. Изменение профилей концентрации атомов в тонкопленочных структурах Me-Si при тепловом и радиационном воздействиях : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. В. Кибардин. - Екатеринбург, 1996. - 27 с. : ил. - Текст : непосредственный.
В надзаг. :Урал.гос.техн.ун-т. Библиогр.:с. 23-27 (30 назв.)

ГРНТИ	УДК
47.13.11	621.3.049.76-416(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР96-1644)

Шифр в сводном ЭК: a41a2c1312d25d5d8e859e61faed5ba3

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽