• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Seebauer, E. G. Charged semiconductor defects : structure, thermodynamics and diffusion / E. G. Seebauer, M. C. Kratzer ; SpringerLink (Online service). - London : Springer, 2009. - on-line. - (Engineering materials and processes). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84882-059-3. - ISBN 978-1-84882-059-3. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    29.19.31537.311.322:548.4

    Кл.слова (ненормированные): ДЕФЕКТЫ -- ДИФФУЗИЯ -- ПОЛУПРОВОДНИКИ -- СТРУКТУРА -- ТЕРМОДИНАМИКА
    Доп. точки доступа:
    Kratzer, M.C.
    SpringerLink (Online service)

    http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84882-059-3


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -163176)

    Шифр в сводном ЭК: a3924d9ccc9c472ccbf2ce68efda2d8b



    Просмотр издания