Полное описание

Ким, И. В. Комплексная оценка долговечности сварных разрезных подкрановых балок стохастическими и нейросетевыми методами : автореф. дис. ... канд. техн. наук: 05.23.01 / И. В. Ким. - Магнитогорск, 2005. - 20 c. : ил. - Библиогр.: с. 19-20(12 назв.). - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
67.11.33	621.874:624.072.2(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар05-9768)

Шифр в сводном ЭК: 9762b64f5b03e0b1e34bca443f0cfa74

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽