Полное описание

Element depth profiles of porous silicon / A.P.Kobzev,O.A.Nikonov,M.Kulik и др. - Dubna : [s. n.], 1997. - 4 p. : il. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; Е14-97-184). - 300 экз. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
31.17.15	546.28.04:543(04)
31.19.15

Рубрики:
Кремний -- Химический анализ

Кл.слова (ненормированные): КРЕМНИЙ -- ХИМИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ
Доп. точки доступа:
Kobzev, A.P.
Nikonov, O.A.
Kulik, M.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/2509/Е14-97-184)

Шифр в сводном ЭК: 9210fd7f2b3709e90c8fd679c3fdb8f6

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽