Полное описание
> Шунков, В. Е. Проектирование элементов КМОП микросхем, выполненных по технологии "кремний на изоляторе" с проектными нормами 0,5 - 0,35 мкм, с повышенной стойкостью к воздействию тяжелых заряженных частиц : автореф. дис. ... канд. техн. наук: 05.13.05 / В. Е. Шунков. - 2012. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-22 (9 назв.). - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
47.33.31 | 621.3.049.77:539.16(043) |
Кл.слова (ненормированные): ВЛИЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ -- ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар13-1539)>
Шифр в сводном ЭК: 900975cf4d5505c2b2b0efbab1570f4a
Заказ фрагмента документа ₽