Полное описание
> Emerging nanotechnologies : test, defect tolerance, and reliability / ed.: M. Tehranipoor ; ed. M. Tehranipoor. - Boston, Ma : Springer Science + Business Media LLC, 2008. - on-line. - (Frontiers in electronic testing ; 37). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7. - ISBN 978-0-387-74747-7. - Текст : электронный.
ГРНТИ | УДК | |
47.13.11 | 620.3 |
Рубрики:
Нанотехнологии
Доп. точки доступа:
Tehranipoor, M.\ed.\
SpringerLink (Online service)
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 620.3/E50-911762)>
Шифр в сводном ЭК: 8f08c4df28fd53e9a9ebef8f7a5084d9
Просмотр издания