• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Mikrofalowe reflektometry trojwrotowe na pasmo lis. System pomiarowy do badania wlasnosci dielektrykow i ferrytow w pasmie mikrofalowym / J. Modelski, S Dmowski, J. Krupka. Translacja formatow opisu struktur VLSI / R. Pawlowski, L. Znamirowski ; T.Morawski,J.Zborowska,M.Sypniewski,C.Mroczkowski. - Warszawa : [s. n.], 1994. - 101 s. : ill. - (Elektronika:Prace naukowe / Politech.Warszawska, ISSN 0137-2343 ; z.101). - Текст : непосредственный.
    Библиогр.в конце статей.

    ГРНТИ УДК
    29.35.23621.317.7:621.396.029.6
    45.09.37621.315.61.029.6
    61.69.41621.318.13.029.6
    621.3.049.771.14.001.2-52

    Рубрики:
    Рефлектометры
    Диэлектрики
    Ферриты СВЧ
    Интегральные схемы большие -- Проектирование -- Автоматизация

    Доп. точки доступа:
    Modelski, J.
    Pawlowski, R.
    Dmowski S
    Znamirowski, L.
    Krupka, J.
    Morawski, T.
    Zborowska, J.
    Sypniewski, M.
    Mroczkowski, C.
    Politechnika Warszawska

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/11492/101)

    Шифр в сводном ЭК: 3cffc594aa6ea9bc31f247c558eacd2a



    Заказ фрагмента документа ₽