Полное описание
> Зенин, В. В. Обеспечение качества микросоединений в полупроводниковых изделиях в процессе их разработки и серийного производства : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.27.01 / В. В. Зенин. - Воронеж, 1997. - 32 с. : ил. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с. 28-32 (43 назв.)
ГРНТИ | УДК | |
47.13.11 | 621.382.002:658.562(043) | |
47.14.07 |
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР98-050)>
Шифр в сводном ЭК: 28d762876384903315802a7fd6c326d1
Заказ фрагмента документа ₽