Полное описание

Wilson, R. G. Secondary ion mass spectrometry : a practical handbook for depth profiling and bulk impurity analysisКсерокопия / R.G.Wilson,F.A.Stevie,C.W.Magee. - New York, NY : Wiley, 1989. - Pag.var. : ill.(2 корешка). - ISBN 0-471-51945-6. - Текст : непосредственный.
Указ.в конце книги

ГРНТИ	УДК
31.19	543.51(03)

Рубрики:
Масс-спектрометрия -- Справочники

Доп. точки доступа:
Stevie, F.A.
Magee, C.W.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/25468)

Шифр в сводном ЭК: 25d7d0bd9175d767027394f9c90fa9d4

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽