Полное описание

Kesel, F. R. Selbsttest von nicht-regularen CMOS-Schaltungen in sicherheitskritischen Anwendungen / F. R. Kesel. - Hannover : [s. n.], 1994. - 132 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.117-123

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.771.14.001.4(043)

Рубрики:
Интегральные схемы большие -- Испытание

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): G2/18710)

Шифр в сводном ЭК: 1fad088f2f1ebe0d420a30dd5766efad

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽