Полное описание

Зебрев, Г. И. Моделирование работы и процессов деградации МОП транзисторов, обусловленных воздействием ионизирующего излучения : автореф. дис. ... канд. техн. наук: 05.27.01 / Г. И. Зебрев. - М., 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 23-24(26 назв.)

ГРНТИ	УДК
47.33	621.382.323:539.16(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар04-6725)

Шифр в сводном ЭК: 101fd966b8fbcb6190aa547094d7404c

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽