Thonissen M.O.-W. Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porosem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektonische Anwendungen : Diss. / M.O.-W.Th@:onissen, 1998. - viii,160,XXIII S. S. - Текст : непосредственный.