Тыщишин В.В. Разработка методики оценки допустимых уровней дефектности тонких металлических пленок (применительно к сборке ИС в полимерные корпуса) : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.07 / В. В. Тыщишин, 1999. - 21 с. - Текст : непосредственный.