Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 2(1638) : Ионно-имплантационное легирование арсенида галлия : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1970-1988 гг. / В.С.Вавилов,И.С.Ташлыков, 1991. - 32 с. - Текст : непосредственный.
Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : Сборник докладов XI Международной конференции, Минск, 21–24 октября 2014 г. / Свириденок А. И., 2014. - 188 с. - Текст : электронный.