Тамбовский М.А. Радиоспектроскопический метод и СВЧ спектрометр для неразрушающего контроля электронных поверхностных состояний металлов и полупроводников : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.13 / М. А. Тамбовский, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный.