Полное описание
Журнал
Surface and Interface Analysis. - Malden [etc.] : Wiley, 1979 - . - 13. - ISSN 1096-9918. - URL: http://onlinelibrary.wiley.com/journal/10.1002/(ISSN)1096-9918, http://eu.wiley.com, https://onlinelibrary.wiley.com/journal/10969918. - Загл. с экрана. - Текст : электронный.
ГРНТИ
31.15.35
29.19
47.09
УДК
544.72
Аннотация: Статьи о результатах теоретических и экспериментальных исследований в области физики поверхностей, межфазных границ и тонких пленок: получение и исследование свойств тонких пленок металлов, полупроводников, полимеров, многослойных тонкопленочных структур и др.; изучение структуры поверхности и физических явлений, протекающих на границах раздела; применение новых методов получения тонких пленок и исследование свойств пленок, поверхностей и границ раздела; разработка количественных методов их оценки, стандартизация этих методов и их применение в промышленности; нанотехнологии. Календарь конференций, перечень принятых к рассмотрению статей. В последнем номере тома - авторский и пономерной указатели.
journal link (full text - компьютерный зал)
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): vr=S307431)
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): W8250)Записей номеров в Каталоге: 81