Полное описание
> Springer proceedings in physics : материалы временных коллективов. - Berlin [etc.] : Springer, 19 - . - Текст : непосредственный.
107 : Microscopy of semiconducting materials : proc. of the 14th conf., Apr. 11-14, 2005, Oxford, UK / Microscopy of semiconducting materials (14th; 2005; Oxford) ; ed.: A. G. Cullis, J. L. Hutchison. - 2005. - XVI, 537 p. : ill. - Библиогр. в конце ст. Указ.: с. 527-537
ГРНТИ | УДК | |
29.19.31 | 537.311.322:620.186(063) |
Рубрики:
Полупроводники -- Методы исследования -- Съезды и конференции
Доп. точки доступа:
Cullis, A. G.\ed.\
Hutchison, J. L.\ed.\
Microscopy of semiconducting materials (14th ; 2005 ; Oxford)
>
Имеются экземпляры в отделах: всего -20071008 : ПНТ (-20071009), (1)
Свободны: ПНТ (1), (1)
Копия:
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/14981/107)>
Шифр в сводном ЭК: 5ee38810801fde191a1e647af6ff62ce
Заказ фрагмента документа ₽