Полное описание

Реутов, В. Ф. Экспрессный метод ПЭМ-изучения структурных изменений в полупроводниках вдоль пути движения заряженных частиц / В.Ф.Реутов,А.С.Сохацкий. - Дубна : [б. и.], 1997. - 10 с. : ил. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; Р14-97-199). - 300 экз. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:539.16(04)

Рубрики:
Полупроводники -- Влияние ионизирующих излучений

Кл.слова (ненормированные): ВЛИЯНИЕ -- ИОНИЗИРУЮЩЕЕ ИЗЛУЧЕНИЕ -- ПОЛУПРОВОДНИК
Доп. точки доступа:
Сохацкий, А.С.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/2509/Р14-97-199)

Шифр в сводном ЭК: 5bca48a7893d184fcdefe3014868208c

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽