Полное описание
> Liu, X. Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits / X. Liu, Q. Xu. - Heidelberg : Springer, 2014. - on-line. - (Lecture Notes in Electrical Engineering ; vol. 252). - URL: https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-00533-1. - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-319-00533-1. - Текст : электронный.
ГРНТИ | УДК | |
47.33.31 | 621.3.049.771.14-048.24 |
Кл.слова (ненормированные): БОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- ИСПЫТАНИЕ
Доп. точки доступа:
Xu, Q.
https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-00533-1
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): ???-241311/252)>
Шифр в сводном ЭК: 764246674c13cfd944b176954968fda7
Заказ фрагмента документа ₽
Просмотр издания