Полное описание

Бублик, В. Т. Специальные методы изучения и контроля структуры и свойств полупроводников и компонентов электронной техники. Раздел Диффузное рассеяние : курс лекций для спец.20.02 / В.Т.Бублик. - М. : [б. и.], 1990. - 98 с. - Текст : непосредственный.
В надзаг.:Моск.ин-т стали и сплавов.Каф.материаловедения полупроводников.Библиогр.:с.97-98(22 назв.).

ГРНТИ	УДК
47.01.77	621.315.592

Рубрики:
Полупроводники -- Методы исследования

Кл.слова (ненормированные): ИССЛЕДОВАНИЕ -- МЕТОД -- ПОЛУПРОВОДНИК
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д7-90/95810)

Шифр в сводном ЭК: dca2fb2aef0f03d9cf7f91825d7d103e

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽