Полное описание

Бублик, В. Т. Методы исследования материалов и структур электроники.Рентгеновская дифракционная микроскопия : курс лекций / В. Т. Бублик, А. М. Мильвидский. - М. : Учеба, 2006 (М.). - 92 с. : ил. - Библиогр.: с. 92. - 200 экз. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Моск. гос. ин-т стали и сплавов, Каф. материаловедения полупроводников

ГРНТИ	УДК
47.01.77	621.38.002.3

Рубрики:
Электронные материалы -- Методы исследования

Кл.слова (ненормированные): ИССЛЕДОВАНИЕ -- МЕТОД -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МАТЕРИАЛ
Доп. точки доступа:
Мильвидский, А.М.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-06/20618)

Шифр в сводном ЭК: b5431d832c457597e0f7702371d85ffb

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽