Полное описание
> Mikla, V. I. Trap level spectroscopy in amorphous semiconductors / V. I. Mikla, V. V. Mikla. - London [etc.] : Elsevier , 2010. - VI, 120 p. : ill. - (Elsevier insights). - Библиогр. в конце разд. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
29.19.31 | 537.311.322:548.4 |
Рубрики:
Полупроводники аморфные -- Кристаллы -- Дефекты -- Методы исследования
Доп. точки доступа:
Mikla, V. V.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/28256)>
Шифр в сводном ЭК: 9f59ada890a755f295a73359cbc24446
Заказ фрагмента документа ₽