Полное описание

Быстров, С. Г. Методология диагностики на наноразмерном уровне локального физико-химического строения поверхности и межфазных слоев полимерных композиционных материалов : автореф. дис. ... д-ра техн. наук: 01.04.01 / С. Г. Быстров. - Ижевск, 2010. - 32 с. : ил. - Библиогр.: с. 28-32. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
61.61.29	678.027.94-022.532.01:541.183(043)

Кл.слова (ненормированные): АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ДИФРАКТОМЕТРИЯ -- ИК-СПЕКТРОСКОПИЯ -- ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар10-25755)

Шифр в сводном ЭК: 0bc75d866e25d307581434d971685544

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽