Булыгин Ф.В. Томографические методы анализа пространственно-спектральной структуры объектов и процессов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.05 / Ф. В. Булыгин, 1993. - 25 с. - Текст : непосредственный.
Булыгин Ф.В. Реконструкция пространственно-спектральной структуры объектов и процессов методами оптической томографии и голографии : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 01.04.05 / Ф. В. Булыгин, 2005. - 39 с. - Текст : непосредственный.
Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии / О. Д. Анашина [и др.]; под ред. В. Н. Крутикова, 2011. - 590 с. - Текст : электронный.
Анашина О.Д. Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии : Учебное пособие / Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, 2020. - 592 с. - Текст : электронный.
Приложение
для Android