Полное описание

Leeuw, W. C.de Comparing LIC and spot noise / W.C.de Leeuw,R.van Liere. - Amsterdam : [s. n.], 1998. - 13 p. : ill. - (Report:Software engineering / CWI ; SEN-R9822). - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с.12-13

ГРНТИ	УДК
50.10.43	004.92

Рубрики:
Машинная графика

Доп. точки доступа:
Liere, R.van

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/17937/SEN-R9822)

Шифр в сводном ЭК: 877dd367a74c90210c8bb99ef6cb4131

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽