Полное описание

Defect recognition in semiconductors before and after processing : proc.ofthe 4th intern.conf.,18-22 March 1991,Wilmslow / Ed.: M. R. Brosel, D. J. Stirland. - Bristol : IOP publ., 1992. - 310 p. : ill. - (Transportation research:Intern.journal ; vol.26B,N 1,1992.). - Текст : непосредственный.
Библиогр.в конце статей
Перевод заглавия: Распознавание дефектов в полупроводниках до и после обработки.Труды 4-й межд.конф.,Вилмслоу,1991

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:548.4(063)

Рубрики:
Полупроводники -- Кристаллы -- Дефекты -- Съезды и конференции

Доп. точки доступа:
Brosel, M.R.\ed.\
Stirland, D.J.\ed.\

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): W9894/Vol.26B,N 1,1992.)

Шифр в сводном ЭК: 1ffffc1af205004d6ddc5d0a5235735f

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽