Полное описание
> Consideration of fluctuation in secondary beam intensity of heavy ion beam probe measurements / A.Fujisawa,H.Iguchi,S.Lee,Y.Hamada. - Nagoya : [s. n.], 1997. - 15 p. : /3/ l.ill. - (Research report NIFS series / Nat.inst.for fusion science, ISSN 0915-633X ; 475). - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.13
ГРНТИ | УДК | |
29.27.49 | 621.039.66 |
Рубрики:
Плазма -- Методы исследования
Доп. точки доступа:
Fujisawa, A.
Iguchi, H.
Lee, S.
Hamada, Y.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/16889/475)>
Шифр в сводном ЭК: 14d4879a287a5691ef9d28729417473d
Заказ фрагмента документа ₽