Полное описание

Гаевский, М. Э. Исследование тонких ВТСП пленок и структур на их основе методами низкотемпературной растровой электронной микроскопии : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / М. Э. Гаевский. - СПб, 1995. - 15 с. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Рос.АН,Физ.-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе. Библиогр.:с.14-15(10 назв.)

ГРНТИ	УДК
29.19.29	538.945:539.216.2(043)
47.09.39	621.315.5-973(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР95-6471)

Шифр в сводном ЭК: 8ea09eda04693a30ea180b6f43d68e71

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽