Полное описание

Сошников, А. И. Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / А. И. Сошников. - 2011. - 30 с. : ил. - Библиогр.: с. 28-30 (14 назв.). - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.19.03	538.91-022.532(043)

Кл.слова (ненормированные): МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ -- МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ -- НАНОСТРУКТУРЫ -- ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА
Аннотация: Развитие научных и технических основ применения инденторов из полупроводникового алмаза для измерения механических и электрических свойств материалов. Разработка методов исследования электрических свойств полупроводников и композитных токопроводящих структур. Создание модификации сканирующего нанотвердомера с инденторами из полупроводникового алмаза для измерения тока.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР11-30678)

Шифр в сводном ЭК: d991ceb2e1acf99aacc3bfb067fd6415

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽