Полное описание

Шиколенко, Ю. Л. Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для диагностики электрофизических параметров элементов хранения энергонезависимой памяти : автореф. дис. ... канд. техн. наук: 05.27.01 / Ю. Л. Шиколенко. - 2016. - 35 с. : ил. - Библиогр.: с. 31-35. - 100 экз. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
50.11	004.33.076.4(043)

Кл.слова (ненормированные): ЗАПОМИНАЮЩИЕ УСТРОЙСТВА -- ЭНЕРГОНЕЗАВИСИМАЯ ПАМЯТЬ
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар16-1759)

Шифр в сводном ЭК: cf4168274a8bb6cd0ff90a4afe1b7dc6

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽