• ВХОД

    •  

    Полное описание

    A two-level approach to automated conformance testing of VHDL designs / J.R.Moonen,J.M.T.Romijn,O.Sies и др. - Amsterdam : [s. n.], 1997. - 15 p. : ill. - (Report:Software engineering / CWI ; SEN-R9707). - Текст : непосредственный.
    Библиогр.: c.14-15

    ГРНТИ УДК
    50.41.25004.415.53

    Рубрики:
    Математическое обеспечение автоматизированных систем

    Кл.слова (ненормированные): МАТЕМАТИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
    Доп. точки доступа:
    Moonen, J.R.
    Romijn, J.M.T.
    Sies, O.
    Springintveld, J.G.

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/17937/SEN-R9707)

    Шифр в сводном ЭК: aaf0e5b52210ac2b920deffc2678bda0



    Заказ фрагмента документа ₽