Полное описание

Сошников, А. И. Исследование и модифицирование полупроводниковых структур алмазными токопроводящими зондами / А. И. Сошников. - Текст : непосредственный // Нанотехника : инженер. журн. - 2008. - № 3. - С. 72-76. - Библиогр.: 7 назв.
ГРНТИ 29.19.31

Кл.слова (ненормированные): физика твердого тела -- полупроводники
Аннотация: Использование алмазных зондов для исследования электрических свойств поверхности с помощью оригинального прибора - сканирующего нанотвердометра. Особенностью прибора является возможность проводить индентирование, царапание и сканирование поверхности одним наконечником, изготовленным из токопроводящего монокристалла легированного бором алмаза.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -960696-450646)

Шифр в сводном ЭК: 68dad70d95832fa39f9a1e042e9eeb84