Полное описание

Breitenstein, O. Lock-in thermography : basics and use for evaluating electronic devices and materials / O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp ; SpringerLink (Online service). - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2010. - on-line. - (Springer series in advanced microelectronics ; 10). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-02417-7. - ISBN 978-3-642-02417-7. - Текст : электронный.
Рубрики:
Physics
Engineering
Materials
Surfaces (physics)
Physics
Optics, optoelectronics, plasmonics and optical devices
Characterization and evaluation of materials
Engineering, general
Structural materials

Доп. точки доступа:
Warta, W.
Langenkamp, M.
SpringerLink (Online service)

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-02417-7

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -838142)

Шифр в сводном ЭК: 52e37cb1c7aa55a1c34b900c60d0a4ae

Просмотр издания