Полное описание

Мехтиев, М. М. Определение реальных физических параметров полупроводниковых структур методом импульсной фотодефлекционной спектроскопии : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / М. М. Мехтиев. - М., 1998. - 22 с. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с. 20-22 (16 назв.)

ГРНТИ	УДК
47.33	621.315.592.9.08(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР98-5348)

Шифр в сводном ЭК: 0049e0dbcba69ffc8505ca3620745d66

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽