• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Echlin, P. Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / P. Echlin ; SpringerLink (Online service). - Boston, Ma : Springer, 2009. - on-line. - URL: http://dx.doi.org/10.1007/b100727. - ISBN 978-0-387-85731-2. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    29.35.43537.533.35
    31.19543.422.8

    Кл.слова (ненормированные): ОБРАЗЦЫ -- ПОДГОТОВКА -- РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОАНАЛИЗ -- СКАНИРУЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
    Доп. точки доступа:
    SpringerLink (Online service)

    http://dx.doi.org/10.1007/b100727


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 537.533.35/E19-328110)

    Шифр в сводном ЭК: f617e30b65c613f47f87754a097f1d7c



    Просмотр издания