• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Многопараметровая диагностика микро- и наноструктур / Д. И. Биленко [и др.] ; Сарат. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского. - Саратов : Изд-во Сарат. ун-та, 2015. - 133 с. : ил. - (Материаловедение и технология новых материалов). - Авт. указ. на обороте тит. л. - Библиогр.: с. 129-131 (35 назв.). - 100 экз. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    81.09.30620.22-022.532
    47.33.37621.3.049.76

    Рубрики:
    Наноструктурные материалы
    Микроэлектроника

    Доп. точки доступа:
    Биленко, Д.И.
    Вениг, С.Б.
    Терин, Д.В.
    Белобровая, О.Я.
    Галушка, В.В.
    Саратовский гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д10-15/32421)

    Шифр в сводном ЭК: d0804be25a5c2330e13146ad79af1e04



    Заказ фрагмента документа ₽