• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Riessen, R. P.van Module generation for selftesting integrated systems : diss. / R.P.van Riessen. - Twente, 1991. - 220 p. : ill. - ISBN 90-9004570-8. - Текст : непосредственный.
    Библиогр. в конце глав

    ГРНТИ УДК
    47.33.31621.3.049.771.14.001.2(043)

    Рубрики:
    Интегральные схемы большие -- Проектирование

    Кл.слова (ненормированные): БОЛЬШАЯ ИНТЕГРАЛЬНАЯ СХЕМА
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/24790)

    Шифр в сводном ЭК: c9172933a40aa1b313932dd475a1d4e2



    Заказ фрагмента документа ₽