• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology / ed. B. Bhushan ; ed. B. Bhushan. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2010. - on-line. - (NanoScience and technology). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03535-7. - Библиогр. в конце глав. Указ.: с. 945-956. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    29.35.43537.533.35
    81.13.30620.3

    Рубрики:
    Микроскопия электронная
    Нанотехнологии

    Кл.слова (ненормированные): НАНОНАУКА -- НАНОТЕХНОЛОГИЯ -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
    Доп. точки доступа:
    Bhushan, B.\ed.\
    SpringerLink (Online service)

    http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03535-7


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 537.533.35/S30-937186)
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/28368)

    Шифр в сводном ЭК: c5789e4095353c0f9ba191eddf34ed01



    Заказ фрагмента документа ₽

    Просмотр издания