Полное описание

Nagashima, K. Electron temperature profile measurement using the filter absorption method in JT-60 : mfiche(1) / K.Nagashima,T.Nishitani,H.Takeuchi. - Tokyo : [s. n.], 1990. - 26 мкфш. : ill. - (Reports / Japan atomic energy research inst. ; m-89-226). - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с.12

ГРНТИ	УДК
29.27.49	621.039.66(086.2)

Рубрики:
Плазма -- Методы исследования

Кл.слова (ненормированные): ПЛАЗМА
Доп. точки доступа:
Nishitani, T.
Takeuchi, H.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): MF-90-15302)

Шифр в сводном ЭК: bf945ed7d451fa369d772d572ad4dcd7

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽