Полное описание
> Гирфанова, Ф. М. Исследование фазовых состояний тонких пленок жидких кристаллов методами атомно-силовой микроскопии : специальность 01.04.14 "Теплофизика и теоретическая теплотехника", 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : диссертация на соискание ученой степени канд. фз.-мат. наук / Ф. М. Гирфанова. - Уфа, 2008. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-24(11 назв.). - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
29.17.25 | 532.783:539.216.2(043) |
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар09-1007)>
Шифр в сводном ЭК: bcd4be825b84d79af36f3732e9036704
Заказ фрагмента документа ₽