Полное описание

Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". - М. : [б. и.], 19 - . - В надзаг.Департамент электрон. пром-сти. - Текст : непосредственный.
Вып. 3(1636) : Надежность и диагностика интегральных схем, Ч. 1,2 : Долговечность и сохраняемость интегральных схем. Методы и средства неразрушающего контроля микроэлектронных устройств / Б.Е.Бердичевский,Т.Б.Маджарова,Л.Г.Дубицкий. - 1991. - 84 с. : ил.

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.77
47.13.81	621.3.049.76:620.179

Рубрики:
Интегральные схемы
Микроэлектронные приборы -- Дефектоскопия

Кл.слова (ненормированные): ДЕФЕКТОСКОПИЯ -- ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- МИКРОЭЛЕКТРОННЫЙ ПРИБОР
Доп. точки доступа:
Маджарова, Т.Б.
Дубицкий, Л.Г.
"Электроника", ин-т (Москва)

Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (3)
Свободны: ХР (3)
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/15125/3(1636)/1,2)

Шифр в сводном ЭК: 8ebc01ae532bbe00a384a853de2bf6c8

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽