• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Bhushan, B. Applied scanning probe methods viii : scanning probe microscopy techniques / B. Bhushan, M. Tomitori, H. Fuchs ; SpringerLink (Online service). - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2008. - on-line. - (Nano science and technolgy, ISSN 1434-4904). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74080-3. - ISBN 978-3-540-74080-3. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    29.35.43537.533.35

    Кл.слова (ненормированные): ПРИКЛАДНЫЕ СКАНИРУЮЩИЕ ЗОНДОВЫЕ МЕТОДЫ -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
    Доп. точки доступа:
    Tomitori, M.
    Fuchs, H.
    SpringerLink (Online service)

    http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74080-3


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 537.533.35/B55-772560)

    Шифр в сводном ЭК: 879a172cd7f7f4095993b6286ef5e555



    Просмотр издания