Полное описание
> Сальникова, И. П. Методы определения электрофизических параметров элементов структур МДП-транзисторов / И. П. Сальникова, В. М. Ивкин, Н. Е. Скляров. - Минск : [б. и.], 1991. - 51 c. : ил. - (Серия 47.13.11, Технология и оборудование для производства полупроводниковых приборов и микросхем : обзорная информация / БелНИИНТИ Госэкономплана БССР). - 263 экз. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 46-50 (43 назв.).
ГРНТИ | УДК | |
47.33 | 621.382.323.08 |
Рубрики:
МОП-транзисторы -- Параметры -- Измерения
Кл.слова (ненормированные): ИЗМЕРЕНИЕ -- МОП-ТРАНЗИСТОР -- ПАРАМЕТР
Доп. точки доступа:
Ивкин, В.М.
Скляров, Н.Е.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д7-91/88071)>
Шифр в сводном ЭК: 6009df89ced5f34bead0928baa2ae3fc
Заказ фрагмента документа ₽