• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Springer proceedings in physics : материалы временных коллективов. - Berlin [etc.] : Springer, 19 - . - Текст : непосредственный.
    107 : Microscopy of semiconducting materials : proc. of the 14th conf., Apr. 11-14, 2005, Oxford, UK / Microscopy of semiconducting materials (14th; 2005; Oxford) ; ed.: A. G. Cullis, J. L. Hutchison. - 2005. - XVI, 537 p. : ill. - Библиогр. в конце ст. Указ.: с. 527-537

    ГРНТИ УДК
    29.19.31537.311.322:620.186(063)

    Рубрики:
    Полупроводники -- Методы исследования -- Съезды и конференции

    Доп. точки доступа:
    Cullis, A. G.\ed.\
    Hutchison, J. L.\ed.\
    Microscopy of semiconducting materials (14th ; 2005 ; Oxford)
    Экз-ры полностью 5ee38810801fde191a1e647af6ff62ce
    Имеются экземпляры в отделах: всего -20071008 : ПНТ (-20071009), (1)
    Свободны: ПНТ (1), (1)
    Копия:

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/14981/107)

    Шифр в сводном ЭК: 5ee38810801fde191a1e647af6ff62ce



    Заказ фрагмента документа ₽