• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Measurement of the spatial resolution of wide-pitch silicon strip detectors with large incident angle / T. Kawasaki, M. Hazumi, Y. Nagashima, K. Senyo. - Tsukuba : [s. n.], 1997. - 13 p. : ill. - (KEK preprint / Nat.lab.for high energy physics ; 96-172). - Текст : непосредственный.
    Библиогр.:с.10

    ГРНТИ УДК
    29.15.39539.1.074.5

    Рубрики:
    Детекторы ионизирующих излучений, полупроводниковые

    Доп. точки доступа:
    Kawasaki, T.
    Hazumi, M.
    Nagashima, Y.
    Senyo, K.

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/17226/96-172)

    Шифр в сводном ЭК: 50ebb50acf7604eeeb2c2d118221a96f



    Заказ фрагмента документа ₽