Полное описание

Валидация на системном уровне. Высокоуровневое моделирование и управление тестированием / М. Чэнь [и др.]; пер. с англ. Е. Б. Махияновой, под ред. А. Н. Ланцева. - М. : Техносфера, 2014. - 294 с. : ил. - (Мир радиоэлектроники). - Библиогр. в конце глав. Предм. указ. : с. 289-294. - 750 экз. - ISBN 978-5-94836-365-3. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
47.01.81	621.3.049.771.14-048.24

Рубрики:
Системы на кристалле -- Тестирование

Доп. точки доступа:
Чэнь, М.
Цинь, К.
Ку, Х-М.
Мишра, П.
Ланцев, А.Н.\ред.\

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ж2-14/55824)

Шифр в сводном ЭК: 4cb4eb4ceef516c6730d2f71ede1306d

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽