Полное описание

Stroud, C. E. System-on-chip test architectures: nanometer design for testability : [ Электронный ресурс] : / C. E. Stroud, N. A. Touba, L.- T. Wang. - [Amsterdam] : Elsevier, 2007. - on-line. - Загл. с титул. экрана. - .

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.771.14

Рубрики:
Интегральные схемы большие

Доп. точки доступа:
Touba, N. A.
Wang, L.- T.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : г. Москва, ул. 3-я Хорошёвская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): ?-103296315)

Шифр в сводном ЭК: 404a7cfc7673ee22f3fe22f1a8108dd1