• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Мёссбауэровская спектроскопия материалов магнитоэлектроники и микросистемной техники : курс лекций / В. В. Коровушкин, В. Г. Костишин, И. М. Исаев, А. Ю. Миронович ; под редакцией С. В. Салихова ; Министерство науки и высшего образования РФ, Университет науки и технологий МИСИС, Институт новых материалов, Кафедра технологии материалов электроники. - Москва : Издательский дом НИТУ МИСИС, 2025. - 207 с. : ил. - Библиогр.: с. 197-207 (96 назв.). - Тираж не указ. - ISBN 978-5-907833-61-6. - Текст (визуальный) : непосредственный.
    ГРНТИ УДК
    29.15.39539.122.17
    47.09621.38-03

    Рубрики:
    Мессбауэра спектроскопия
    Электронные материалы -- Методы исследования

    Кл.слова (ненормированные): БИНАРНЫЕ СПЛАВЫ -- ЖЕЛЕЗНЫЕ СПЛАВЫ -- ЖЕЛЕЗО -- ИНТЕРМЕТАЛЛИДЫ -- КЕРАМИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ -- МЕССБАУЭРОВСКИЕ СПЕКТРЫ -- ПОЛУПРОВОДНИКИ -- СПЕКТРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ -- ЭФФЕКТ МЕССБАУЭРА
    Аннотация: Изложены теоретические основы мёссбауэровской спектроскопии, описаны основные параметры мёссбауэровских спектров, их физический смысл и извлекаемая из них информация. Дано описание программы математической обработки спектров Univem MS. Рассмотрены также основы мёссбауэровской спектроскопии на конверсионных электронах и целесообразность ее применения при изучении поверхности материалов. Изложение всех основ мёссбауэровской спектроскопии в пособии дано на примерах использования изотопов 57Fe и 119Sn. Приведены примеры использования мёссбауэровской спектроскопии для изучения структуры, состава, свойств и поверхности оксидов железа, ферритов со структурой шпинели, ферритов-гранатов, ортоферритов, гексагональных ферритов, а также различных керамических полупроводников и наноматериалов. Пособие имеет практико-ориентированную направленность и предназначено для студентов, аспирантов, а также научных сотрудников, пользующихся данным методом исследования.
    Доп. точки доступа:
    Коровушкин, Владимир Васильевич
    Костишин, Владимир Григорьевич
    Исаев, Игорь Магомедович
    Миронович, Андрей Юрьевич
    Салихов, Сергей Владимирович\ред.\
    Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" (Москва). Институт новых материалов. Кафедра технологии материалов электроники

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д11-25/40954)

    Шифр в сводном ЭК: 802b03f1e99465acfc2fa3b9e937d524



    Заказ фрагмента документа ₽