Полное описание
Козакова, Ольга Владимировна .
Сканирующая электронная микроскопия : минералогический атлас пород Западной Сибири / О. В. Козакова, С. В. Астаркин, М. В. Решетников. - Саратов : Техно-Декор, 2024. - 107 с. : ил. - Авт. указаны на обороте тит. л. - 100 экз. -
ISBN 978-5-907716-63-6. - Текст (визуальные). Изображение : непосредственные.
ГРНТИ УДК 29.35.43 537.533.35 38.35.91 549(571.1)(084.4)
Рубрики: Микроскопия электронная
Минералогия -- Западная Сибирь -- Атласы
Кл.слова (ненормированные): ИЛЛИТ -- КАОЛИНИТ -- КВАРЦ -- ПИРИТ -- РУТИЛ -- ФОССИЛИИ
Аннотация: В книге отражены результаты электронно-микроскопических исследований керна горных пород Западно-Сибирского региона.
Доп. точки доступа: Астаркин, Сергей Васильевич
Решетников, Михаил Владимирович
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ж2-24/79940)
Шифр в сводном ЭК: 600e4d7f86553d6353446ecf750edd05
Маджид Длер Салам Маджид.Тяжелые металлы и магнитные свойства почв городов: Вольск, Петровск, Хвалынск / Маджид Длер Салам Маджид, Решетников Михаил Владимирович, 2023. - 155 с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Экодиагностика почв территории города Красный Кут (Саратовская область): монография / М. В. Решетников, Е. В. Плешакова, А. С. Шешнёв, К. Т. Нгун, 2024. - 95 с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Козакова, Ольга Владимировна. Сканирующая электронная микроскопия : минералогический атлас пород Западной Сибири / О. В. Козакова, С. В. Астаркин, М. В. Решетников, 2024. - 107 с. - Текст (визуальные) : непосредственные. Шешнёв, Александр Сергеевич. Геохимия : учебное пособие для студентов, обучающихся по специальности 21.05.02 Прикладная геология и направлению 05.03.01 Геология / А. С. Шешнёв, М. В. Решетников, Д. А. Шелепов, 2025. - 103 с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Проблемы литологии, минералогии и стратиграфии осадочных образований Воронежской антеклизы : сборник / ред. А. Д. Савко, 2002. - 127 с. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Меланина Н.М. Минералы и горные породы Кировской области / Н. М. Меланина, 2005. - 95 с. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Минералогический альманах. Т. 21вып. 1. В мире минералов, 2016. - 120 с. - Текст : непосредственный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Чарский В.П. Метасоматиты и типоморфизм пирита на месторождении Талдыбулак Левобережный(Северный Кыргызстан) : специальность 04.00.11 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.геол.-минералог.наук / В. П. Чарский, 1992. - 19 с. - Текст : непосредственный. Кокшаров Н. Материалы для минералогии России. Ч. 4, 1862. - 344 с. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный. Бахтизин Р.З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов, 2004. - 82 с. - Текст : непосредственный. Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / А. В. Ищенко [и др.], 2017. - 179 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Хокс П. Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; Пер.: И. Ф. Анаскин, А. М. Розенфельд ; Ред. И. Г. Стоянова, 1974. - 319 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy and related methods : материалы временных коллективов / Ed. R. J. Behm, 1990. - X,525 p. p. - Текст : непосредственный. Специальные методы рентгенографии и электронно-микроскопического исследования материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, И. К. Боричева, А. Б. Спешилова, 2008. - 89 с. - Текст : непосредственный. Handbook of microscopy for nanotechnology / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Бахтизин Р.З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов, 2004. - 82 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
